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Product Image-LEIM11506349

HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,14 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506349)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,14 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,37 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506314)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,37 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3433

AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class

Numero del catalogo: (630-3433)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506243

HC PLAN FL L 20×/0,40 NA CORR PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 20×, Distancia de trabajo: 7,5 - 6,2 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506243)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HC PLAN FL L 20×/0,40 NA CORR PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 20×, Distancia de trabajo: 7,5 - 6,2 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506526

HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil PH3; BF, DIC, POL, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,18 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506526)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil PH3; BF, DIC, POL, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,18 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,36 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506097)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,36 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506237

HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,31 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506237)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,31 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506276

HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506276)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,3 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506386)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,3 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3191

Accessory for camera, 0,55× HC C-mount for compound microscopes

Numero del catalogo: (630-3191)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: Accessory for camera, 0,55× HC C-mount for compound microscopes
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3310

HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 17,7 mm

Numero del catalogo: (630-3310)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 17,7 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506321

N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Distancia de trabajo: 0,14 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506321)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Distancia de trabajo: 0,14 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506273

HI Plan Phase objective, 40 X/ 0,50 NA, .PH2 for inverted microscope DMi1, 40×, Distancia de trabajo: 2 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506273)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI Plan Phase objective, 40 X/ 0,50 NA, .PH2 for inverted microscope DMi1, 40×, Distancia de trabajo: 2 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3302

HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 13,9 mm

Numero del catalogo: (630-3302)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 13,9 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3301

N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 3,3 - 1,9 mm

Numero del catalogo: (630-3301)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 3,3 - 1,9 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3305

HI Plan I 40x/0.50 PH1, 40×, Distancia de trabajo: 2 mm

Numero del catalogo: (630-3305)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI Plan I 40x/0.50 PH1, 40×, Distancia de trabajo: 2 mm
UOM: 1 * 1 UN
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Este producto se trata de un artículo regulado sometido a normativa que restringe su venta. Si procede, nos pondremos en contacto con usted para solicitarle la licencia o declaración de uso necesaria para poder proceder al suministro del producto.
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