Imprimir…

Esta buscando: Componentes+para+destilaci\u00F3n


178 814  results were found

Refinar resultados Ordenado por

Sort Results

Vista lista Vista Extendida (Nueva)
SearchResultCount:"178814"

Valore los resultados de su búsqueda

Product Image-630-2159

Objetivos MET de IOS W-Plan (sin cubreobjetos), VWR®, 50×/0,75 mm

Descripción: Objetivos MET de IOS W-Plan (sin cubreobjetos), VWR®, 50×/0,75 mm
Numero del catalogo: 630-2159
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: VWR Collection
Image Unavailable-ZEIS4212319910000

Objective LD A-Plan Ph1, 5× (0,15 mm)

Descripción: Objective LD A-Plan Ph1, 5× (0,15 mm)
Numero del catalogo: ZEIS4212319910000
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: ZEISS
Product Image-630-1978

Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 40×/0,65, Distancia de trabajo: 0,55 mm

Descripción: Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 40×/0,65, Distancia de trabajo: 0,55 mm
Numero del catalogo: 630-1978
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: VWR Collection
Product Image-630-1976

Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 10×/0,25, Distancia de trabajo: 10 mm

Descripción: Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 10×/0,25, Distancia de trabajo: 10 mm
Numero del catalogo: 630-1976
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: VWR Collection
Product Image-630-1977

Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 20×/0,40, Distancia de trabajo: 5,1 mm

Descripción: Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 20×/0,40, Distancia de trabajo: 5,1 mm
Numero del catalogo: 630-1977
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: VWR Collection
Product Image-630-1979

Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 100×/1,25 (i), Distancia de trabajo: 0,13 mm

Descripción: Objetivo de contraste de fases IOS W-Plan, VWR®, PH 100×/1,25 (i), Distancia de trabajo: 0,13 mm
Numero del catalogo: 630-1979
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: VWR Collection
Product Image-LEIM11506241

HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Distancia de trabajo: 0,1 mm

Descripción: HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Distancia de trabajo: 0,1 mm
Numero del catalogo: LEIM11506241
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3304

HI Plan I 20x/0.30 PH1, 20×, Distancia de trabajo: 3 mm

Descripción: HI Plan I 20x/0.30 PH1, 20×, Distancia de trabajo: 3 mm
Numero del catalogo: 630-3304
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distancia de trabajo: 11,7 mm

Descripción: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distancia de trabajo: 11,7 mm
Numero del catalogo: 630-3368
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556060

HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 18 mm

Descripción: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 18 mm
Numero del catalogo: LEIM11556060
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,3 mm

Descripción: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,3 mm
Numero del catalogo: LEIM11506386
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3302

HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 13,9 mm

Descripción: HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 13,9 mm
Numero del catalogo: 630-3302
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506276

HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm

Descripción: HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm
Numero del catalogo: LEIM11506276
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506302

N PLAN 5×/0,12 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 5×, Distancia de trabajo: 14 mm

Descripción: N PLAN 5×/0,12 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 5×, Distancia de trabajo: 14 mm
Numero del catalogo: LEIM11506302
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506321

N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Distancia de trabajo: 0,14 mm

Descripción: N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Distancia de trabajo: 0,14 mm
Numero del catalogo: LEIM11506321
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 18 mm

Descripción: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 18 mm
Numero del catalogo: LEIM11506227
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
193 - 208 of 178 814