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SearchResultCount:"267"
Descripción: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,18 mm
Numero del catalogo: LEIM11506525
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,4 mm
Numero del catalogo: LEIM11506382
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 1,2 mm
Numero del catalogo: LEIM11506519
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distancia de trabajo: 11,2 mm
Numero del catalogo: LEIM11556036
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 12 mm
Numero del catalogo: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 12 mm
Numero del catalogo: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,36 mm
Numero del catalogo: LEIM11556065
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distancia de trabajo: 18 mm
Numero del catalogo: LEIM11556060
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm
Numero del catalogo: LEIM11556071
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Fuente de luz fría
Numero del catalogo: LEIM30221015
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS

New Product


Descripción: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,37 mm
Numero del catalogo: LEIM11506314
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Microscopio, Digital, Leica® THUNDER imager assay package, Leica®
Numero del catalogo: 630-3396
UOM: 1 * 1 SET
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Microscopio, Laser microdissection system, Leica®, LMD6
Numero del catalogo: 630-3398
UOM: 1 * 1 SET
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Numero del catalogo: 630-3433
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distancia de trabajo: 12 mm
Numero del catalogo: 630-3366
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distancia de trabajo: 11,7 mm
Numero del catalogo: 630-3368
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


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