Esta buscando: LEICA MICROSYSTEMS


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SearchResultCount:"268"
Descripción: Eyepiece, adjustable, low eyepoint, 10× (23 mm)
Numero del catalogo: LEIM10447131
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Achromat objective, M60 thread, 0,50×, Distancia de trabajo: 188,5 mm
Numero del catalogo: LEIM10450192
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Iluminación LED, LED3000
Numero del catalogo: LEIM10450656
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Microscopio, Inverted, Binocular, Leica DMi8
Numero del catalogo: 630-3468
UOM: 1 * 1 SET
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Microscopio, Laser microdissection system, Leica®, LMD6
Numero del catalogo: 630-3398
UOM: 1 * 1 SET
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: Microscopio, Digital, Leica® THUNDER imager assay package, Leica®
Numero del catalogo: 630-3396
UOM: 1 * 1 SET
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distancia de trabajo: 12 mm
Numero del catalogo: 630-3366
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distancia de trabajo: 11,7 mm
Numero del catalogo: 630-3368
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distancia de trabajo: 1,15 mm
Numero del catalogo: 630-3367
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distancia de trabajo: 0,5 mm
Numero del catalogo: 630-3370
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distancia de trabajo: 0,5 mm
Numero del catalogo: 630-3369
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,09 mm
Numero del catalogo: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 C/U
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,26 mm
Numero del catalogo: LEIM11506184
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distancia de trabajo: 11,2 mm
Numero del catalogo: LEIM11556036
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 12 mm
Numero del catalogo: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descripción: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 12 mm
Numero del catalogo: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 UN
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS


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