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Esta buscando: 2-Cloro-4,6-dinitroanilina


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Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distancia de trabajo: 0,5 mm

Numero del catalogo: (630-3369)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distancia de trabajo: 0,5 mm
UOM: 1 * 1 C/U
Product Image-LEIM11506083

N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distancia de trabajo: 11,2 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506083)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distancia de trabajo: 11,2 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506237

HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,31 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506237)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distancia de trabajo: 0,31 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3310

HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 17,7 mm

Numero del catalogo: (630-3310)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 17,7 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3191

Accessory for camera, 0,55× HC C-mount for compound microscopes

Numero del catalogo: (630-3191)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: Accessory for camera, 0,55× HC C-mount for compound microscopes
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506276

HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506276)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,92 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,3 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506386)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,3 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506217

HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Distancia de trabajo: 2,6 - 1,8 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506217)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Distancia de trabajo: 2,6 - 1,8 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,36 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506097)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distancia de trabajo: 0,36 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506158

N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,12 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506158)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distancia de trabajo: 0,12 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506096

N PLAN 20×/0,40 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,39 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506096)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 20×/0,40 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distancia de trabajo: 0,39 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506405

N PLAN 10×/0,25 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 17,7 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506405)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 10×/0,25 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distancia de trabajo: 17,7 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-LEIM11506302

N PLAN 5×/0,12 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 5×, Distancia de trabajo: 14 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506302)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: N PLAN 5×/0,12 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 5×, Distancia de trabajo: 14 mm
UOM: 1 * 1 UN
Product Image-630-3398

Microscopio, Laser microdissection system, Leica®, LMD6

Numero del catalogo: (630-3398)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: Microscopio, Laser microdissection system, Leica®, LMD6
UOM: 1 * 1 SET
Product Image-LEIM11506241

HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Distancia de trabajo: 0,1 mm

Numero del catalogo: (LEIM11506241)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Distancia de trabajo: 0,1 mm
UOM: 1 * 1 UN
Image Unavailable-630-3152

Accessory for microscopes, Para: DM, Power cord with UK/Ireland plug

Numero del catalogo: (630-3152)
Proveedor: LEICA MICROSYSTEMS
Descripción: Accessory for microscopes, Para: DM, Power cord with UK/Ireland plug
UOM: 1 * 1 UN
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El stock para este material es limitada pero puede estar disponible en un almacén cerca de usted. Por favor, asegúrese de que ha iniciado sesión en la web para que el stock disponible se puede mostrar. Si el call sigue apareciendo y usted necesita ayuda, por favor llámenos al 902 222 897 o por email en webshop.es@avantorsciences.com.
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Este producto se trata de un artículo regulado sometido a normativa que restringe su venta. Si procede, nos pondremos en contacto con usted para solicitarle la licencia o declaración de uso necesaria para poder proceder al suministro del producto.
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